中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器由光學(xué)照明系統(tǒng)、光學(xué)成像系統(tǒng)、垂直掃描控制系統(tǒng)、信號(hào)處理系統(tǒng)、應(yīng)用軟件構(gòu)成。以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌,主要用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等領(lǐng)域。
性能特點(diǎn)
1、輪廓/粗糙度測(cè)量功能:
高到亞納米級(jí)的高度分辨率,在寬度、高度、角度、直徑等各類輪廓尺寸測(cè)量功能以及表征表面整體加工質(zhì)量的粗糙度等指標(biāo);
2、自動(dòng)化測(cè)量功能:
自動(dòng)單區(qū)域測(cè)量/自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量/自動(dòng)拼接測(cè)量;
3、復(fù)合型掃描算法:
集合了PSI高精度&VSI大范圍雙重優(yōu)點(diǎn)的EPSI掃描算法,有效覆蓋從超光滑到粗糙等所有類型樣品,無(wú)須切換,操作便捷;
4、雙重防撞保護(hù)功能:
Z軸上裝有防撞機(jī)械電子傳感器、軟件ZSTOP防撞保護(hù)功能,雙重保護(hù),多一重安心;
5、環(huán)境噪聲檢測(cè)功能:
環(huán)境噪聲評(píng)價(jià)功能能夠定量檢測(cè)儀器當(dāng)前所處環(huán)境的綜合噪聲數(shù)值,對(duì)儀器的調(diào)試、測(cè)試可靠性提供指導(dǎo);
6、完善的售后服務(wù)體系:
設(shè)備故障遠(yuǎn)程&現(xiàn)場(chǎng)解決,軟件免費(fèi)升級(jí)。
SuperViewW1白光干涉儀檢測(cè)儀器對(duì)高深寬比的溝槽結(jié)構(gòu),可以快速而準(zhǔn)確的得到理想的測(cè)量結(jié)果。其重建算法自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合下,分辨率可達(dá)0.1nm。